El Leica EM TXP es un dispositivo de destino preparación única especialmente desarrollada para el corte y pulido de muestras antes de ser examinadas por las técnicas de SEM, TEM y Microscopia de campo claro.
El Leica EM TIC020 utiliza la técnica de corte por iones inclinados usado para realizar cortes de materiales, porosos, y heterogéneos. Este tipo de cortes es esencial mara exanimación de superficies por medio del técnica des SEM o análisis de microestructuras por medio de las técnicas EDS (Energy dispersive X ray spectroscopy), WDS (WDS - Wavelength dispersive X-ray spectroscopy), efecto Auger y EBSD (Electron backscatter diffraction).
El sistema de recubrimiento Leica EM SCD050 utiliza un sistema de pulverización de catódica, la opción ideal para recubrimiento de muestras sensible a altas temperaturas ya sean biológicas o industriales, ya que el porta muestras del Leica EM SCD050 es enfriado por medio de un sistema de radiación agua, garantizando de así la preservación de la muestra a largos tiempos de recubrimiento.
El ultra micrótomo modelo Leica EM UC7 realiza con facilidad y precisión cortes semi y utra finos de la más alta calidad como nunca antes lo había visto. El EM UC7 es una perfecta herramienta para la preparación de muestras industriales y biológicas para ser observadas en SEM, TEM, AFM y microscopia de campo claro de alta resolución.
Convierta su ultramicromo Leica EM UC 7 en un crioultramicrotomo. La cámara utracongelación leica EM FC 7 se adapta en minutos. Con el cual usted podrá realizar cortes ultra finos a bajas temperaturas, listas para análisis en el TEM, SEM, AFM y microscopia de campo claro de alta resolución.
TIL
Tecnología Integral para Laboratorios,
San Nicolas de los Garza, Nuevo León, México
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01 (81) 1404-1169
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